Insitec噴霧式顆粒粒度分析儀

概述

Insitec噴霧式顆粒粒度分析儀可為噴霧及氣溶膠提供全自動原位實(shí)時顆粒粒度測量。 可監(jiān)測風(fēng)洞及大氣室內(nèi)條件，表征家庭氣溶膠及各人護(hù)理產(chǎn)品，監(jiān)測批量及連續(xù)工藝，如：噴霧干燥。

每款I(lǐng)nsitec噴霧式系統(tǒng)均具有以下特點(diǎn)：

• 模型硬件依據(jù)GAMP5標(biāo)準(zhǔn)及CIP/SIP要求制造，符合特定的制造規(guī)程。
• 簡單易用的軟件及全自動化運(yùn)行，最大限度地降低培訓(xùn)要求同時解放人力。
• 與現(xiàn)有控制平臺整合，簡化自動化控制協(xié)議的開發(fā)。
• 可靠性高達(dá)95%以上，幾乎無停機(jī)，最小化維護(hù)需求的同時最大化投資回報率。

Insitec噴霧式顆粒粒度分析儀工作原理

概述
所有 Insitec 的安裝均依照*的應(yīng)用要求量身定制。 該系列產(chǎn)品包含從簡單的在線手動操作系統(tǒng)到全自動運(yùn)行系統(tǒng)，可為連續(xù)監(jiān)測及多元控制提供可靠的在線解決方案。 Malvern Panalytical 與客戶通力合作，無論何時何地，均可為客戶提供專業(yè)知識、硬件及軟件服務(wù)。 在成功完成項(xiàng)目的同時，確保了成本效益與良好的投資回報。

成功因數(shù)
工藝分析的成功取決于三個關(guān)鍵部分的仔細(xì)考量：

• 工藝界面。
• 樣品測量。
• 數(shù)據(jù)顯示與使用。

工藝界面
Insitec 系統(tǒng)是工藝設(shè)備系統(tǒng)，在工廠環(huán)境中運(yùn)行。 正確選擇儀器與工廠之間的界面是確保長期*運(yùn)行的基礎(chǔ)。

Malvern Panalytical 擁有在多種噴霧應(yīng)用中經(jīng)過驗(yàn)證的技術(shù)。 Insitec噴霧式在線系統(tǒng)與工藝流程共同運(yùn)行并具有人工界面。 對于自動化連續(xù)運(yùn)行，Insitec安裝于工藝流程內(nèi)。 Insitec噴霧式分析儀具有靈活的配置選件，通過最簡便的設(shè)計，即可使發(fā)射器與檢測器位于噴霧或氣溶膠附近。 可處理中試規(guī)模及商業(yè)規(guī)模的應(yīng)用。 設(shè)計優(yōu)良的線內(nèi)界面能確保分析儀可靠運(yùn)行、降低維護(hù)頻率、不干擾工藝流程。

樣品測量
Insitec 系統(tǒng)采用激光衍射技術(shù)快速測量顆粒粒度。 使用噴霧系統(tǒng)，可在一秒鐘內(nèi)對完整的顆粒粒度分布進(jìn)行測量，從而提供瞬時監(jiān)測。 甚至可對噴霧形態(tài)中細(xì)微的臨時波動進(jìn)行有效追蹤。

Insitec噴霧式分析儀可直接測量可能具有*顆粒濃度的噴霧或氣溶膠。 獲得專li的多次散射計算程序通過在檢測前針對與幾個（并非只有一個）顆粒相互作用的光源影響進(jìn)行算術(shù)糾正，來處理濃度對粒度測量的影響；該影響在高濃度條件下更為普遍。 即便是濃度最大的噴霧與氣溶膠，也可以得出可靠的粒度信息。

Insitec可為所有粒度分布提供可靠、及時、完整的數(shù)據(jù)。 無論是人工控制還是自動控制，這些數(shù)據(jù)均為更好的工藝控制奠定了穩(wěn)固的基礎(chǔ)。

數(shù)據(jù)顯示和使用
Insitec 系統(tǒng)與現(xiàn)有的控制系統(tǒng)整合。 典型情況下，該系統(tǒng)由中央控制室操作，并依據(jù)測量的結(jié)果制定例行決策。 強(qiáng)大的軟件包使整合與數(shù)據(jù)分析更為簡單明了。

Malvern Link II軟件具有將Insitec與現(xiàn)有控制系統(tǒng)以及與自動化工藝控制進(jìn)行整合的功能。 允許分析員從電腦或現(xiàn)有的控制模擬系統(tǒng)進(jìn)行操作。 重要的是，Malvern Link II并非僅限于Insitec整合。 該軟件還可輕松地進(jìn)行其它儀器類型的整合，簡化多元控制。

RTSizer軟件采用清楚易懂的方式顯示測量數(shù)據(jù)。 時間歷程可對噴霧“逐幀”檢查，仔細(xì)觀查動態(tài)特性。 結(jié)果報告可按照工業(yè)及客戶標(biāo)準(zhǔn)定制，從而改善信息流。 Insitec數(shù)據(jù)用于：

• 改善工藝認(rèn)知度。
• 提供即時擾動檢測。
• 支持整體工藝優(yōu)化。
• 自動化工藝控制。

由于報告了完整的粒度分布，因此監(jiān)測與控制可以任何粒級為基礎(chǔ)。 Insitec數(shù)據(jù)可優(yōu)化人工控制策略并使工藝控制實(shí)現(xiàn)*自動化，從而提供潛在的經(jīng)濟(jì)回報。

技術(shù)指標(biāo)